MX-5和MX-5D管道壁厚超声波测厚仪 性能区别

CMXDL超声波测厚仪是基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。MVX A/B扫描型超声波测厚仪可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，VX A/B扫描壁厚和腐蚀超声波测厚仪监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，PX-7金属和塑料超声波壁厚测厚仪可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。

PX-7金属和塑料超声波壁厚测厚仪的测量注意下列事项：

⒈    壁厚超声波测厚仪在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉    壁厚扫描超声波测厚仪测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊    单双晶探头测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋    穿透性涂层测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌    壁厚超声波测厚仪测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

⒍    玻璃超薄件测厚仪测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

⒎    MAX壁厚扫描超声波测厚仪在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

       ⒏   CMX腐蚀层超声波测厚仪在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，

             因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

精工仪器DM5E穿越涂层超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。MX-3扫描超声波测厚仪使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

      精工仪器PX-7DL超声波测厚仪的应用

      38DL带存储超声波测厚仪按超声波脉冲反射原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

      影响精工仪器PVX超声波测厚仪带AB波形扫描示值的因素

      （1）CL5高精密超声波测厚仪对工件表面粗糙度过大，造成探头与接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀，耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理，降低粗糙度，PX-7DL高精密超声波测厚仪同时也可以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，A/B扫描高精密超声波测厚仪PVX使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。

      （2）PX-7高精度超声波测厚仪测量工件曲率半径太小，尤其是小径管测厚时，因常用探头表面为平面，与曲面接触为点接触或线接触，声强透射率低（耦合不好）。可选用小管径专用探头（6mm ),能较精确的测量管道等曲面材料。

      （3）MX-5DL穿透油漆层超声波测厚仪针对检测面与底面不平行，声波遇到底面产生散射，MX-5钢管超声波测厚仪 探头无法接受到底波信号。